• 芯片设计的模拟验证技术分析和探讨

    分类: 计算机科学 >> 计算机应用技术 提交时间: 2017-03-09

    摘要: 本文通过分析模拟验证技术随着设计规模发展而遇到的困境及其原因,认为基于错误模型的设计验证是有望取得突破性进展的技术方向。本文进而从三方面综合介绍了基于错误模型的设计验证技术的研究现状,以及我们在这方面开展的部分工作。本文首先阐述了设计错误模型的研究现状,重点介绍了差异测试的思想以及缺项错误模型及其测试方法;其次介绍了错误注入系统ErrorInjector,该系统能够支持种类丰富的设计错误模型,而且具有良好的可扩展接口,是一个对于设计错误模型研究非常有益的基础平台;最后介绍了基于错误屏蔽概率的静态可观测性量化分析方法,以及在此基础上的根据低观测根源选择内部观测点的方法,为从设计错误所引发的效果角度研究可验证性设计技术提供了一个实例。

  • 集成电路中的时延可测性设计技术

    分类: 计算机科学 >> 计算机硬件技术 提交时间: 2017-03-09

    摘要: 随着集成电路制造工艺的特征尺寸不断减小,高性能集成电路产品的定时约束变得越来越严格。各种制造缺陷如阻性开路、阻性短路、通孔中形成空洞以及栅氧化层失效等现象的影响在当前先进的集成电路制造工艺下也变得越来越显著。为了确保芯片的出厂质量,通常需要对其进行有效的时延测试。对集成电路进行时延可测性设计不仅可以非常有效地检测芯片中的时延缺陷,而且可以为芯片在量产前进行有效的调试。在本文当中,我们首先介绍了集成电路中的时延缺陷对芯片性能和可靠性的影响,然后分别介绍了一些采用时延可测性设计技术来提高芯片时延测试故障覆盖率、精简时延测试向量集规模、检测芯片中小时延缺陷以及对芯片的时延故障进行在线检测的方法。