分类： 物理学 >> 基本粒子与场物理学 分类： 物理学 >> 核物理学 提交时间： 2024-03-07
摘要： 在硅像素探测器的研究和开发中，配备高分辨率的像素束望远镜的准直单能带电粒子测试束流对探测器原型验证和性能评估是至关重要的。当束流能量较低时，必须考虑多次库仑散射对被测设备（DUT）测量分辨率的影响，以准确评估像素芯片和探测器的性能。本研究旨在调查多次库仑散射对DUT测量分辨率的影响，特别是在低束流能量下。使用Allpix2软件进行模拟，研究了不同束流能量、物质量和望远镜布局下多次库仑散射的影响。模拟还提供了多次库仑散射影响可忽略的最低能量。与在DESY用电子束测试的的结果相比，模拟结果与束流测试结果一致，验证了模拟的可靠性。
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